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ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)系統(tǒng) ELSZ-2000ZS

特點(diǎn) 使用了最新型高感度APD，感度提升及縮短測(cè)量時(shí)間通過測(cè)量自動(dòng)溫度梯度空間，可分析出変性相轉(zhuǎn)移溫度可測(cè)量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度追加了大范圍的分子量測(cè)量及解析功能...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評(píng)價(jià)邁向新舞臺(tái)】ELSZneo是ELSZ series的最高級(jí)機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測(cè)定之外，還能進(jìn)行分子量測(cè)定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測(cè)定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測(cè)量粒子濃度測(cè)定、微流變學(xué)測(cè)定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對(duì)應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。3μL就能測(cè)定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進(jìn)行自動(dòng)溫度梯度測(cè)量的變性相變溫度分析。...
多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)·nanoSAQLA

● nanoSAQLA是一臺(tái)通過動(dòng)態(tài)光散亂法（DLS法）測(cè)量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測(cè)定的新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了實(shí)驗(yàn)室必需的輕量、小型化、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測(cè)定。另外，這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動(dòng)取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測(cè)量”的新產(chǎn)品。...
多樣品nano粒子徑測(cè)量系統(tǒng) nanoSAQLA（帶自動(dòng)取樣器 AS50）

產(chǎn)品信息特點(diǎn) nanoSAQLA 的特點(diǎn) 1個(gè)單元可輕松連續(xù)測(cè)量5個(gè)樣品實(shí)現(xiàn)了在沒有自動(dòng)進(jìn)樣器的情況下難以實(shí)現(xiàn)的多個(gè)樣品的連續(xù)測(cè)量，也可以通過改變每個(gè)樣品的條件進(jìn)行測(cè)量。對(duì)應(yīng)瘦...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)系統(tǒng) ELSZ-2000ZS

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 使用了最新型高感度APD，感度提升及縮短測(cè)量時(shí)間通過測(cè)量自動(dòng)溫度梯度空間，可分析出変性相轉(zhuǎn)移溫度可測(cè)量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度追加了大范圍的分子量測(cè)量...
ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneoSE

本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測(cè)量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評(píng)價(jià)邁向新舞臺(tái)】ELSZneo是ELSZ series的最高級(jí)機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測(cè)定之外，還能進(jìn)行分子量測(cè)定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測(cè)定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測(cè)量粒子濃度測(cè)定、微流變學(xué)測(cè)定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對(duì)應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。3μL就能測(cè)定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進(jìn)行自動(dòng)溫度梯度測(cè)量的變性相變溫度分析。...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評(píng)價(jià)邁向新舞臺(tái)】ELSZneo是ELSZ series的最高級(jí)機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測(cè)定之外，還能進(jìn)行分子量測(cè)定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測(cè)定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測(cè)量粒子濃度測(cè)定、微流變學(xué)測(cè)定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對(duì)應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。3μL就能測(cè)定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進(jìn)行自動(dòng)溫度梯度測(cè)量的變性相變溫度分析。...
ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE

本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測(cè)量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能等...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS

●可測(cè)量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進(jìn)行分子量測(cè)量的檢測(cè)裝置。●適用于粒徑測(cè)量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）。對(duì)電滲透流進(jìn)行實(shí)測(cè)，可通過最小容量130μL 微量可拋式樣品池實(shí)現(xiàn)...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)系統(tǒng) ELSZ-2000Z

產(chǎn)品特點(diǎn)：使用了最新型高感度APD，感度提升及縮短測(cè)量時(shí)間通過測(cè)量自動(dòng)溫度梯度空間，可分析出変性相轉(zhuǎn)移溫度可測(cè)量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度追加了大范圍的分子量測(cè)量等...

測(cè)量機(jī)器/ Measuring machine 查看更多+

高速LED光學(xué)特性儀 LE series

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 與產(chǎn)線的控制信號(hào)同步通過光纖的自由的測(cè)試系統(tǒng) 實(shí)現(xiàn)最短2ms～的光譜測(cè)量（LE-5400）同以往的產(chǎn)品相比，測(cè)量、演算、評(píng)價(jià)1個(gè)周期有可到半分鐘以下的高速機(jī)型測(cè)量...
光波動(dòng)場(chǎng)三次元顯微鏡

MINUK可評(píng)價(jià)nｍ級(jí)的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無需對(duì)焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測(cè)量位置。
分光配光測(cè)量系統(tǒng) GP series

產(chǎn)品信息特殊長(zhǎng)度支持長(zhǎng)達(dá) 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測(cè)量還支持有機(jī)EL和大型顯示器的光分布測(cè)量可以自動(dòng)控制2軸測(cè)角儀測(cè)量每個(gè)角度的光譜分布，并通過球帶系數(shù)法獲得總...
MCPD series 嵌入式膜厚測(cè)試型

本公司的MCPD series，由于采用柔軟纖維的事，從In-Situ到內(nèi)聯(lián)各種各樣的地方和用途的編入成為可能。測(cè)量原理為分光干涉方式，在實(shí)現(xiàn)高測(cè)量再現(xiàn)性的同時(shí)，還支持多層厚度測(cè)量。通過采用獨(dú)自算法，可以高速實(shí)時(shí)監(jiān)控。...
OPTM series 嵌入型

利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測(cè)量等膜厚信息。...
相位差測(cè)量裝置 RETS-100nx New

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備測(cè)量項(xiàng)目...
顯微分光膜厚儀 OPTM series

測(cè)量項(xiàng)目：[膜厚、折射率n、消光系數(shù)k]. 測(cè)量原理：[分光干涉法]. 測(cè)量對(duì)象：[光刻膠、SiO2、Si3N4等]. 測(cè)量范圍：[1nm~92μm]....
膜厚量測(cè)儀 FE-300

產(chǎn)品信息特長(zhǎng) 薄膜到厚膜的測(cè)量范圍、UV~NIR光譜分析高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測(cè)儀藉由絕對(duì)反射率光譜分析膜厚完整繼承FE-3000高端機(jī)種90%的強(qiáng)大功能無復(fù)雜設(shè)定，操作簡(jiǎn)單，短時(shí)...
嵌入式膜厚檢測(cè)儀

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用分光干涉法搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（專利第4834847號(hào)）使用光學(xué)光纖，可靈活構(gòu)筑測(cè)量系統(tǒng) 可嵌入至各種制造設(shè)備。實(shí)時(shí)測(cè)量膜厚可對(duì)應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測(cè)量...
線掃描膜厚儀【在線型】

采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已獲取專利）實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量不受偏差影響可對(duì)應(yīng)寬幅樣...
分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3

即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測(cè) 采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測(cè)再現(xiàn)性可進(jìn)行高速...
橢偏儀 FE-5000/5000S

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 可在紫外和可見（250至800nm）波長(zhǎng)區(qū)域中測(cè)量橢圓參數(shù) 可分析納米級(jí)多層薄膜的厚度可以通過超過400ch的多通道光譜快速測(cè)量Ellipso光譜通過可變反射角測(cè)量，可詳細(xì)分析...
線掃描膜厚儀【離線型】

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 全面高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測(cè) 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已取得專利）實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量（500萬點(diǎn)...
小角激光散射儀 PP-1000

PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡(jiǎn)稱SALS），可以對(duì)高分子材料和薄膜進(jìn)行原位檢測(cè)，實(shí)時(shí)解析。與SAXS和SANS的裝置相比，檢測(cè)范圍更廣。利用偏光Hv散射測(cè)量可以進(jìn)行光學(xué)各向異性的評(píng)價(jià)，解析結(jié)晶性薄膜的球晶半徑，偏光Vv散射測(cè)量可以進(jìn)行聚合物混合的相關(guān)距離的分析。...
高速相位差測(cè)量裝置 RE-200

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 可測(cè)從0nm開始的低（殘留）相位差光軸檢出同時(shí)可高速測(cè)量相位差(Re.) （相當(dāng)于世界最快速的0.1秒以下來處理）無驅(qū)動(dòng)部，重復(fù)再現(xiàn)性高設(shè)置的測(cè)量項(xiàng)目少，測(cè)量簡(jiǎn)單...
MCPD series 在線評(píng)估測(cè)試系統(tǒng)

本公司的MCPD series在線膠卷評(píng)價(jià)系統(tǒng)，由于光學(xué)式非接觸·非破壞的膜厚，濃度，顏色等的檢查可能。可測(cè)定膜厚范圍為65nm～92μm和薄膜到厚膜都對(duì)應(yīng)。（折射率1.5時(shí)）測(cè)量原理為分光干涉方式，在實(shí)現(xiàn)高測(cè)量再現(xiàn)性的同時(shí)，還支持多層厚度測(cè)量。由于采用了獨(dú)自算法，可以高速實(shí)時(shí)監(jiān)控，所以作為在線膠片監(jiān)控，我們提出了最適合的系統(tǒng)。...
線掃描膜厚儀【在線型】

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已獲取專利）實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量不受偏差影響可對(duì)應(yīng)寬幅樣...
多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800

產(chǎn)品信息特長(zhǎng) 應(yīng)用廣泛的測(cè)量?jī)x。以最高機(jī)型MCPD-9800為首，一共有3種對(duì)應(yīng)12波長(zhǎng)領(lǐng)域的測(cè)量?jī)x。我們可以根據(jù)客戶的需求和用途提出最適合的方案。不同評(píng)價(jià)方法對(duì)應(yīng)不同設(shè)備 ◎...
彩色濾光片、彩色光刻膠測(cè)量裝置 LCF SERIES

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 以透過光譜測(cè)量、色測(cè)量為代表，通過濃度測(cè)量、膜厚測(cè)量、反射光譜測(cè)量等，可對(duì)應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻璃基板...
Load Port對(duì)應(yīng)膜厚測(cè)量系統(tǒng) GS-300

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 支持集成到 Φ300mm EFEM 單元的備用端口實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對(duì)齊支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求支持槽口對(duì)齊功能小尺寸規(guī)格高精度自動(dòng)校準(zhǔn)單元自動(dòng)...
液晶層間隙量測(cè)設(shè)備 RETS series

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備測(cè)量項(xiàng)目...
嵌入式膜厚檢測(cè)儀

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用分光干涉法搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（專利第4834847號(hào)）使用光學(xué)光纖，可靈活構(gòu)筑測(cè)量系統(tǒng) 可嵌入至各種制造設(shè)備。實(shí)時(shí)測(cè)量膜厚可對(duì)應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測(cè)量...
顯微分光膜厚儀 OPTM series

●非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ●OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測(cè)試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對(duì)反射率的新型高精度、高性價(jià)比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測(cè)試，并有獨(dú)家專利可針對(duì)透明基板去除背面反射，從而達(dá)到“真實(shí)反射率、膜厚”測(cè)試的目的。此外，軟件操作簡(jiǎn)單、使用方便且簡(jiǎn)化了復(fù)雜的建模流程。...
液晶層間隙量測(cè)設(shè)備 RETS series

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備測(cè)量項(xiàng)目...
OPTM series 嵌入型

利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測(cè)量等膜厚信息。...
膜厚測(cè)量系統(tǒng) FE-3700/5700

產(chǎn)品信息特殊長(zhǎng)度可以高速、高精度地測(cè)量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。用法 LCD ITO...
彩色濾光片、彩色光刻膠測(cè)量裝置 LCF SERIES

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 以透過光譜測(cè)量、色測(cè)量為代表，通過濃度測(cè)量、膜厚測(cè)量、反射光譜測(cè)量等，可對(duì)應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻璃基板...
用于透過率/吸光度測(cè)量的多通道光譜儀MCPD series

是從紫外到近紅外領(lǐng)域?qū)?yīng)的多功能多通道分光檢測(cè)器。最短5ms即可進(jìn)行光譜測(cè)量。標(biāo)準(zhǔn)裝置的光纖可支持各種測(cè)量系統(tǒng)，而無需確定樣品種類。以顯微分光、光源發(fā)光、透射、反射測(cè)定為首，通過與軟件的組合，也可以對(duì)應(yīng)物體顏色評(píng)價(jià)、膜厚測(cè)定等。...
高靈敏度光譜儀 HS-1000

特點(diǎn)：采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測(cè)量，對(duì)應(yīng)CIE推薦的寬波長(zhǎng)范圍（355 nm至835 nm）獨(dú)特的光學(xué)系統(tǒng)降低了...
總光譜光通量測(cè)量系統(tǒng) HM/FM series

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 可處理高達(dá)2400mm的直管光學(xué)總光通量測(cè)量測(cè)量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準(zhǔn) 采用新的探測(cè)器，可以進(jìn)行廣動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)量測(cè)量部分的尺寸（積分球或積分半球）從250毫...
紫外分光輻射照度測(cè)量系統(tǒng) New

產(chǎn)品信息特征該檢測(cè)器是一種高性能的分光光度計(jì) ，在光源測(cè)量、反射/透射測(cè)量、過程測(cè)量等方面取得了多項(xiàng)成果。覆蓋從紫外線到可見光的寬波長(zhǎng)范圍帶軟件的樣品照明電源...
紫外分光全光譜光通量測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)品信息特征具有高靈敏度檢測(cè)器的寬測(cè)量范圍具有紫外線自吸收校正的高精度測(cè)量配備溫度控制單元，可從-110C進(jìn)行溫度控制涵蓋從紫外線到可見光的波長(zhǎng)范圍電源、溫控單元、...
紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)品信息特征通過分光光度分布對(duì)紫外光進(jìn)行高精度測(cè)量從配光上評(píng)估紫外光的最大發(fā)光強(qiáng)度、光束開度、光束光通量涵蓋從紫外線到可見光的波長(zhǎng)范圍支持從 LED 芯片到模塊和應(yīng)用...
分光輻射照度測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)品信息特殊長(zhǎng)度該檢測(cè)器是一種高性能的分光光度計(jì) ，在光源測(cè)量、反射/透射測(cè)量、過程測(cè)量等方面取得了多項(xiàng)成果。覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長(zhǎng)范圍...
高速LED光學(xué)特性儀 LE series

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 與產(chǎn)線的控制信號(hào)同步通過光纖的自由的測(cè)試系統(tǒng) 實(shí)現(xiàn)最短2ms～的光譜測(cè)量（LE-5400）同以往的產(chǎn)品相比，測(cè)量?演算?評(píng)價(jià)1個(gè)周期有可到半分鐘以下的高速機(jī)型測(cè)量..
高感度分光輻射亮度計(jì) HS-1000

特點(diǎn)：采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測(cè)量，對(duì)應(yīng)CIE推薦的寬波長(zhǎng)范圍（355 nm至835 nm）獨(dú)特的光學(xué)系統(tǒng)降低了...
量子效率測(cè)量系統(tǒng) QE-2100

產(chǎn)品信息特點(diǎn) 測(cè)量精度高可瞬間測(cè)量絕對(duì)量子效率（絕對(duì)量子收率）可去除再激勵(lì)熒光發(fā)光采用了積分半球unit，實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系采用了低迷光多通道分光檢出器，大大減少了...
高靈敏度近紅外量子效率測(cè)量系統(tǒng) QE-5000 New

產(chǎn)品信息特殊長(zhǎng)度可以測(cè)量0.01%或更低的單線態(tài)氧的產(chǎn)生量子產(chǎn)率。單線態(tài)氧 (1270 nm) 的簡(jiǎn)單直接光譜觀察可在用于生物應(yīng)用等的水性溶劑中測(cè)量。傳統(tǒng)方法難以在輕溶劑中進(jìn)行測(cè)量...

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